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真空紫外光譜儀:精密光路賦能專業(yè)光譜分析

更新時間:2026-02-06點擊次數:80
真空紫外光譜儀依托Seya-Namioka精密光路結構,入射狹縫和CCD探測器均位于羅蘭圓上,支持單色模式與光譜模式靈活切換,可滿足多場景精密光譜分析需求。其中,NIM型真空紫外光譜儀,廣泛應用于大科學裝置、半導體極紫外光源與探測器研究、空間與防務等領域。
該光譜儀具備多重核心產品特點,適配專業(yè)分析場景:波長范圍較寬,可覆蓋多樣檢測需求;配備在線精密可調狹縫,保障檢測精度;支持空間維聚焦擴展,適配復雜測試場景;可提供系統(tǒng)集成服務,貼合個性化應用需求;整體結構緊湊、集成度高,節(jié)省安裝空間;同時具備高真空兼容性,適配特殊工況檢測。
設備核心參數精準可控,支撐高效檢測:光柵采用球面光柵,波長范圍覆蓋80nm~200nm;光譜分辨率在167nm處可達0.16nm,波長精度可根據實際需求定制設計;搭載科研級相機作為探測器,檢測性能穩(wěn)定;狹縫寬度支持0.01~3mm在線連續(xù)可調,進一步提升檢測靈活性與精準度。